Zum Werk Für alle Teilnehmer der Europäischen Eignungsprüfung (EEP) bietet das neue Werk zielorientierte Methodiken zum Bestehen der EEP in den Teilen A, B, C und D. Alle prüfungsrelevanten Themen sind in deutscher und englischer Sprache synoptisch dargestellt. Besonderes Gewicht wird auf inhaltlich gut strukturierte Hilfestellungen gelegt. Besonders hilfreich: Immer dort, wo es für die Methodiken nötig ist, sind auch patentrechtliche Grundlagen erläutert. Dabei wird jeweils auf Gesetze, Rechtsprechung und Prüfungsrichtlinien verwiesen. Vorteile auf einen Blick SchrittfürSchritt Vorgehensweisen Zeitangaben pro Bearbeitungsschritt Details der Punktevergabe Prüfungsschemata für patentrechtliche Fragen Formulierungsvorschläge und ganze Textpassagen Tabellen als Bearbeitungshilfen praktische Tipps für die Prüfung Zielgruppe: Für Teilnehmer der Europäischen Eignungsprüfung.

Hersteller:
Verlag C. H. BECK oHG
[email protected]
Wilhelmstr. 9
DE 80801 München